日本日立臺(tái)式X射線熒光光譜儀X-Supreme8000
日本日立臺(tái)式X射線熒光光譜儀X-Supreme8000概述
X-Supreme8000 XRF針對(duì)進(jìn)行質(zhì)量保證和過(guò)程控制要求的分析儀。
分析可被應(yīng)用于多種樣品種類,包括固體、液體、粉末 、軟膏、薄膜等,從PPM到%級(jí),覆蓋元素周期表中 Na11 至 U92 的范圍。
日本日立臺(tái)式X射線熒光光譜儀X-Supreme8000特點(diǎn)
★ 樶少或無(wú)需樣本制備。
★ 無(wú)人操作,且非實(shí)驗(yàn)室操作員也可使用
★ FocusSD 技術(shù)提供快速、準(zhǔn)確和長(zhǎng)期的可靠性
★ 靈活進(jìn)行定性、半定量和全定量分析
★ X-Supreme8000符合ASTM D4294、ISO8754、ISO20847和ISO13032檢測(cè)方法。